簡要描述：時代TT230涂層測厚儀能快速無損傷地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。
TT230氧化膜測厚儀體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。
測量范圍0-1250UM

詳情介紹

時代TT230涂層測厚儀丨氧化膜測厚儀丨上海熙浩實業有限公司銷售
時代TT230涂層測厚儀是一種超小型的測量儀。時代TT230涂層測厚儀能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。TT230測厚儀可廣泛用于制造業、金屬加工業、商檢等檢測領域。TT230氧化膜測厚儀體積小，一體化，特別適用于工程現場測量。

上海地區：，上海氧化膜測厚儀

上海時代TT230氧化膜測厚儀的主要技術指標　

　　測量原理：渦流法
　　測量范圍：1～1250μm
　　測量精度：±（3%H+1.5）μm（零點校準）
　　　　　　　±[（1～3）%H+1.5] μm（二點校準）

時代TT230涂層測厚儀的主要功能

　　可進行零點校準及二點校準。
　　可對測頭進行基本校準。
　　設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO）、標準偏差（S.DEV）。可存貯和統計計算15個測量值。
　　具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
　　自動關機功能。
　　刪除功能：對測量中出現的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量。
　　操作過程有蜂鳴聲提示。
　　有欠壓指示功能。
　　有錯誤提示功能。

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